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VFI 是一種幹涉檢測係統,專為檢查切割或拋光光纖的表麵質量和平整度而(ér)設計。 用戶可以在 2D 和 3D 的(de)各種不同視(shì)圖中(zhōng)查看其光纖,從而讓用(yòng)戶全麵了解其切割(gē)或拋(pāo)光過程。 VFI 幹涉儀已在研究、生產和 QA 中一遍又一遍地證(zhèng)明了自己,我們從用戶(hù)那裏得到的反饋表明他們重視這些(xiē)功(gōng)能(néng):